半导体集成电路（模拟开关）检测
半导体集成电路（模拟开关）检测：常见项目39项，包括导通电阻温度漂移率、导通态漏电流IDS(on)等；适用标准以GB/T 14028-2018等现行有效版本为准
检测项目
热学性能
导通电阻温度漂移率
电学性能
- 导通态漏电流IDS(on)
- 导通电阻Ron
- 导通电阻路差ΔRon
- 截止态源级漏电流IS（off）
- 截止态漏极漏电流ID（off）
- 输入低电平电流I IL
- 输入高电平电流I IH
- 静态工作电源电流I DD
- 导通态漏电流
- 导通电阻
- 导通电阻路差
- 导通电阻路差率
- 截止态源极漏电流
- 截止态漏极漏电流
- 电源电流
- 截止态漏极漏电流/截止态源极漏电流
- 模拟电压工作范围
- 双向开关截止电流
- 导通态漏电流IDS（on）
- 导通电阻路差△Ron
- 截止态漏电流ID（off）
- 截止态源极漏电流I S(off)
- 截止态漏极漏电流I D(off)
- 静态工作电源电流
- 输出低电平电压 V OL
- 输出高电平电压 V OH
- 静态条件下的电源电流 I DD
- 截止态源极漏电流 I S（OFF）
- 逻辑端输入电流
- 静态条件下的电源电流
- 截止态源极漏电
- 导通态漏极漏电流
- 电源电流I DD
- 关断时间
- 开启时间
- 通道转换时间
- 开启时间/关断时间
- 功能测试
- 开启时间ton
- 关断时间toff
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
电导率仪法：测定溶液电导率表征离子总量
检测仪器
- 电导率仪
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
SJ/T 10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
GB/T 14028-2018《半导体集成电路模拟开关测试方法 5.8》
GB/T 17574-1998《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇》
GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第III篇第6节 5.1.1》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
