半导体集成电路（时基电路）检测
半导体集成电路（时基电路）检测：常见项目23项，包括复位触发电流I R、阈值电压V T等；适用标准以GB/T 17574-1998等现行有效版本为准。
检测项目
电学性能
- 复位触发电流I R
- 阈值电压V T
- 阈值电流I T
- 静态电源电流I +
- 复位电压V R
- 复位电流I R
- 控制端电压V C
- 触发电压V TR
- 触发电流I TR
- 阈值电压V TR
- 复位电压
- 复位电流
- 控制端电压
- 电源电流
- 触发电压
- 触发电流
- 输出低电平电压
- 输出高电平电压
- 阈值电压
- 阈值电流
- 静态电源电流
- 输出低电平电压V OL
- 输出高电平电压V OH
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标
性能参数测试：测量电气参数与功能性能
检测仪器
- 耐压测试仪
- 绝缘电阻测试仪
- 数字万用表
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》
GB/T 14030-1992《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1》
SJ/T 10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
