半导体集成电路（运算放大器电压比较器）检测

半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）检测：常见项目20项，包括输入失调电压、输入偏置电流（同相）等；适用标准以GB/T 17940-2000等现行有效版本为

检测项目

电学性能

• 输入失调电压
• 输入偏置电流（同相）
• 输入偏置电流（反相）
• 输入失调电流
• 开环电压放大倍数
• 开环电压增益
• 正电源电压抑制比
• 负电源电压抑制比
• 正输出电压范围
• 负输出电压范围
• 输出电压范围
• 输出高电平电压
• 输出低电平电压
• 高电平输出电流
• 低电平输出电流
• 正电源电流
• 负电源电流
• 电源电流
• 共模抑制比
• 静态功耗

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标

性能参数测试：测量电气参数与功能性能

检测仪器

• 耐压测试仪
• 绝缘电阻测试仪
• 数字万用表

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》

GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 4.1》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。