半导体集成电路（模数转换器和数模转换器）检测

半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测：电子产品检测项目与标准依据说明，常见项目22项，包括零点误差温度系数、失调误差温度系数等。

检测项目

热学性能

电学性能

• 零点误差温度系数
• 失调误差温度系数
• 增益误差温度系数
• 线性误差温度系数
• 微分线性误差温度系数
• 基准电压
• 数字输出高电平电压
• 数字输出低电平电压
• 数字输入高电平电压
• 数字输入低电平电压
• 数字输入高电平电流
• 数字输入低电平电流
• 电源电压灵敏度
• 电源电流
• 零点误差
• 失调误差
• 增益误差
• 线性误差
• 微分线性误差
• 建立时间
• 转换时间
• 功耗

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标

性能参数测试：测量电气参数与功能性能

检测仪器

• 耐压测试仪
• 绝缘电阻测试仪
• 数字万用表

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 QJ 3044-98

SJ 20961-2006《集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》

QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 5.1.13

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。