半导体集成电路时基电路检测

半导体集成电路时基电路检测：电子领域检测服务，常见项目23项，包括复位触发电流I R、阈值电压V T等，依据GB/T 17574-1998等公开标准执行。

检测项目

电学性能

• 复位触发电流I R
• 阈值电压V T
• 阈值电流I T
• 静态电源电流I +
• 复位电压
• 复位电流
• 触发电压
• 触发电流
• 阈值电压
• 阈值电流
• 静态电源电流
• 复位电压V R
• 复位电流I R
• 控制端电压V C
• 触发电压V TR
• 触发电流I TR
• 阈值电压V TR
• 控制端电压
• 电源电流
• 输出低电平电压V OL
• 输出高电平电压V OH
• 输出低电平电压
• 输出高电平电压

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标

性能参数测试：测量电气参数与功能性能

检测仪器

• 耐压测试仪
• 绝缘电阻测试仪
• 数字万用表

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》

GB/T 14030-1992《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1》

SJ/T 10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。