半导体集成电路（数字集成电路）检测
半导体集成电路（数字集成电路）检测：常见项目11项，包括电源电流、输入低电平电流等，依据GB/T 17574-1998等标准执行，判定以标准条款为准。
检测项目
电学性能
延迟时间
- 电源电流
- 输入低电平电流
- 输入电流
- 输入箝位电压
- 输入高电平电流
- 输出低电平电压
- 输出低电平时电源电流
- 输出短路电流
- 输出高电平电压
- 输出高电平时电源电流
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标
性能参数测试：测量电气参数与功能性能
检测仪器
- 耐压测试仪
- 绝缘电阻测试仪
- 数字万用表
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
