半导体集成电路-TTL电路检测

半导体集成电路-TTL电路检测：常见项目55项，包括输入低电平电流I IL、输入钳位电压V IK等；适用标准以GB/T 17574-1998等现行有效版本为准。

检测项目

电学性能

功能测试（静态测试）、动态测试）、延迟时间、功能测试、稳定性烘焙、传输时间、功能测试：（静态测试）、延迟时间t pd、输出由低电平到高电平传输延迟时间t PLH、输出由低电平到高阻态传输延迟时间t PLZ、输出由高电平到低电平传输延迟时间t PHL、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t PHZ、输出由高阻态到低电平传输延迟时间t PZL、输出由高阻态到高电平传输延迟时间t PZH、建立时间

• 输入低电平电流I IL
• 输入钳位电压V IK
• 输入高电平电流I IH
• 输出低电平电压V OL
• 输出短路电流I OS
• 输出高电平电压V OH
• 输出高阻态电流I OZ
• 静态条件下的电源电流
• 电源电流I CC
• 输入电流I I
• 输出低电平电源电流I CCL
• 输出高电平电源电流I CCH
• 输入钳位电压
• 输出低电平电压
• 输出短路电流
• 输出高电平电压
• 输出高阻态电流
• 电源电流
• 输入低电平电流
• 输入高电平电流
• 输出高阻态时低电平电流I OZL
• 输出高阻态时高电平电流I OZH
• 正向阈值电压下的输入电流I T+
• 负向阈值电压下的输入电流I T-
• 输出低电平时电源电流I CCL
• 输出高电平时电源电流I CCH
• 输入低电平电压
• 输入高电平电压
• 输出高阻态时低电平电流
• 输出高阻态时高电平电流
• 输入电流
• 输出低电平时电源电流
• 输出高电平时电源电流
• 电源电流I DD
• 结电容C j
• 输入低电平电压V IL
• 输入高电平电压V IH
• 电源电压
• 输出低电平电流
• 输出高电平电流
• 工作状态时电源电流
• 输入高电平电流/输入低电平电流
• 输出截止电流 I O（OFF）
• 输入簎位电压
• 输出低电平电压V
• 输出高阻态时高电平电流I
• 电源电流I
• 输出高阻态时低电平电流I
• 输出高电平电压V
• 正向阈值电压下的输入电流I
• 输入电流I
• 输出高电平时电源电流I
• 输出低电平时电源电流I
• 负向阈值电压下的输入电流I

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标

性能参数测试：测量电气参数与功能性能

检测仪器

• 耐压测试仪
• 绝缘电阻测试仪
• 数字万用表

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

SJ/T 10735-1996《半导体集成电路 ＴＴＬ电路测试方法的基本原理 2.25》

GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》

GB /T 17574-1998 《半导体集成电路第2部分：数字集成电路》 第IV篇第3节第4.3条

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法1008.1

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。