半导体集成电路运算放大器检测

半导体集成电路运算放大器检测：电子领域检测服务，常见项目61项，包括寿命试验、输入失调电压等，依据GB/T 17940-2000等公开标准执行。

检测项目

力学性能

寿命试验

电学性能

• 输入失调电压
• 输入失调电流
• 输入偏置电流
• 电源电流
• 开环电压增益
• 电源电压抑制比
• 输出峰-峰值电压
• 短路输出电流
• 开环电压放大倍数
• 电压转换速率（压摆率）
• 输出电压范围
• 开环电压增益AVD
• 最大输出电压V OPP
• 最大输出电流I OM
• 电源电压抑制比 K SVR
• 输入偏置电流I Ib
• 输入失调电压V IO
• 输入失调电流I IO
• 输出峰峰电压Vopp
• 静态电源电流
• 差分放大器输出电压范围
• 输出电压最大变化率
• 开环电压放大倍数（A VO （、电源电压抑制比）K SVR （、电源电流）I CC （、输入偏置电流）I IB ）
• 输入失调电流（I IO （、输出电压范围）V O ）
• 输出峰峰电压
• 大信号电压增益
• 电压转换率
• 输出电压幅度
• 电压增益A vo
• 电压转换速率（压摆率）SR
• 电源电压抑制比PSRR
• 输入失调电压V OS
• 输入失调电流I OS
• 输出峰-峰值电压V opp
• 输出电压幅度V opp
• 输出电压转换速率（压摆率）SR
• 静态电源电流I S
• 输出电压转换速率
• 输出短路电流
• 电压放大倍数
• 输出峰-峰电压 V OPP
• 输出电压范围V
• 输入失调电流I
• 电源电压抑制比K
• 开环电压放大倍数A
• 输入偏置电流I
• 输入失调电压V
• 电源电流I
• 共模抑制比
• 共模抑制比K CMR
• 静态功耗PD
• 共模抑制比CMRR
• 静态功耗P W
• 驱动低电平
• 驱动高电平
• 增益带宽积
• 静态功耗
• 共摸抑制比
• 功耗
• 共模抑制比K

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标

疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线

耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核

检测仪器

• 频谱分析仪
• 示波器
• 信号发生器
• 网络分析仪
• 疲劳试验机
• 电液伺服试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

SJ/T 10738-1996《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 条款2.8》

GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》

GB 9425-1988《半导体集成电路 运算放大器空白详细规范》

QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.11

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。