半导体集成电路存储器检测

半导体集成电路存储器检测：电子领域检测服务，常见项目18项，包括工作状态时电源电流、输入低电平电流等，依据GB/T 17574-1998等公开标准执行。

检测项目

电学性能

• 工作状态时电源电流
• 输入低电平电流
• 输入高电平电流
• 输出低电平电压
• 输出高电平电压
• 输出高阻态时低电平电流
• 输出高阻态时高电平电流
• 静态条件下的电源电流
• 待机状态时电源电流
• 输出高阻态电流
• 工作状态电源电流
• 动态条件下的总电源电流
• 输出短路电流
• 全0（全1）图形
• 单1（单0）图形
• 存储器的特定时间
• 对角线图形
• 棋盘格图形

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标

性能参数测试：测量电气参数与功能性能

检测仪器

• 耐压测试仪
• 绝缘电阻测试仪
• 数字万用表

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。