半导体集成电路电压比较器检测

半导体集成电路电压比较器检测：电子领域检测服务，常见项目52项，包括寿命试验、输入偏置电流温度系数等，依据GB/T 6798-1996等公开标准执行。

检测项目

力学性能

寿命试验

热学性能

电学性能

• 输入偏置电流温度系数
• 输入失调电压温度系数
• 输入失调电流温度系数
• 输入失调电压
• 输入失调电流
• 输入偏置电流
• 开环电压增益
• 电源电压抑制比
• 输出高电平电压
• 静态电源电流
• 开环电压增益A VD
• 最大共模输入电压V ICM
• 最大差模输入电压V IDM
• 输入偏置电流I IB
• 输入失调电压V IO
• 输入失调电流I IO
• 输出低电平电压V OL
• 输出高电平电压V OH
• 高电平输出电流I OH
• 低电平输出电流
• 输出低电平电压
• 高电平输出电流
• 开环电压增益（A VD （、输入偏置电流）I IB （、输入失调电压）V IO （、输入失调电流）I IO （、输出低电平电压）V OL （、输出低电平电流）I OL ）
• 最大共模输入电压
• 输出漏电流
• 输出电压幅度
• 最大差模输入电压
• 输出高电流
• 输出低电流
• 共模电压输入范围
• 差模输入电压
• 输出电流
• 低电平输出电流 I OL
• 输出高电平电流
• 输出低电平电流
• 共模电压输入范围V OC
• 差模输入电压V ID
• 电压增益A vo
• 输入失调电压V OS
• 输入失调电流I OS
• 输出电流I O
• 静态电源电流I S
• 电源电压抑制比 K SVR
• 选通电流 I ST
• 电源电压抑制
• 低电平选通电流 I ST（L）
• 静态功耗P D
• 共模抑制比
• 共模抑制比KCMR
• 静态功耗
• 共模抑制比CMRR

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线

耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核

检测仪器

• 疲劳试验机
• 电液伺服试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

SJ/T 10805-2000《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 5.16》

GB/T 6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 4.7》

GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 /1005.1

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。