电子元器件静电放电检测

电子元器件静电放电检测：常见项目2项，包括HBM ESD、MM ESD，具体项目以委托确认与适用标准为准。

检测项目

• HBM ESD
• MM ESD

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率

静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度

检测仪器

• 高阻计
• 表面电阻测试仪
• 静电放电发生器

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

EIA/JESD22-A115C2010 静电放电试验、机器模型

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

ANSI/ESDA/JEDECJS-001-2017 静电放电试验、人体模型

MIL-STD- 883K_CHG-1:2016 微电路试验方法标准 MIL-STD-883K_CHG-1:2016

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法3015

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

MIL-STD-883K_CHG-1:2016 微电路试验方法标准 方法3015.9

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。