电子元器件及设备（寿命及可靠性）检测

电子元器件及设备（寿命及可靠性）检测：常见项目7项，包括稳态寿命、间歇寿命等；适用标准以GB/T 2423.36等现行有效版本为准。

检测项目

力学性能

老炼试验

• 稳态寿命
• 间歇寿命
• 寿命/可靠性试验
• 可靠性鉴定试验
• 可靠性验收试验
• 模拟寿命

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线

耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核

检测仪器

• 疲劳试验机
• 电液伺服试验机

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-2009

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 5.2

GJB899A-2009 可靠性鉴定试验

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1026、1027

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

GJB548B-2005 稳态寿命

GB/T 2423.36-2005《电子电工产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验》

SJ 21271-2018《微波组件温度-湿度-振动综合应力试验方法》

GJB128A-1997 稳态寿命

GB/T 2423.35-2019《环境试验 第2部分：试验和导则 气候（温度/湿度）和动力学（振动、冲击）综合试验》

GJB548A-1996 稳态寿命

GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996

GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 方法1005A

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。