电子元器件及设备（机械性能）检测

电子元器件及设备（机械性能）检测：电子领域检测服务，常见项目5项，包括机械冲击、扫频振动等，依据GB/T 2423.58等公开标准执行。

检测项目

力学性能

机械冲击

• 扫频振动
• 设备及大组件恒定加速度
• 随机振动
• （电子元器件）恒定加速度

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

摆锤冲击试验：测定冲击吸收功，评价材料韧性

低温冲击试验：在设定低温下进行冲击，评估韧脆转变行为

振动试验：随机或正弦振动激励，考核结构可靠性

冲击/跌落试验：半正弦冲击或自由跌落考核包装与结构

检测仪器

• 冲击试验机
• 低温槽
• 落锤冲击试验机
• 振动试验台
• 冲击试验台
• 跌落试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法204

GJB 150.15A-2009 **装备实验室环境试验方法 第15部分 加速度试验

GJB1060.1-1991 舰船环境条件要求机械环境

GJB 1060.1-1991 设备及大组件恒定加速度

GJB150.18A-2009 **装备实验室环境试验方法 第18部分 冲击试验

GJB360A-1996 机械冲击

GJB 1032-1990 电工产品环境应力筛选方法 GJB 1032-1990

SJ 21270-2018《微波组件冲击响应谱试验方法》

GJB 1032-1990 电工产品环境应力筛选方法 GJB 1032-1990 5.2

GJB 150.16-1986 设备及大组件恒定加速度

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

GB/T 2423.58-2008《电子电工产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fi:振动 混合模式》

GJB360B-2009 （电子元器件）恒定加速度

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2007

GJB548B-2005 （电子元器件）恒定加速度

GJB128A-1997 机械冲击

GJB150.16A-2009 **装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验

GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996

GJB 150.15-1986 **设备环境试验方法 加速度试验

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。