集成电路(ADC)检测

集成电路(A/DC)检测：辐射检测领域检测服务，常见项目67项，包括低温工作寿命检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)等，依据公开标准执行。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

• 低温工作寿命检测
• 无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)
• 早夭期寿命检测
• 高加速温湿度寿命检测（HAST）
• 高温工作寿命检测
• 零点误差温度系数
• 增益误差温度系数
• 线性误差温度系数
• 微分线性误差温度系数
• 温度循环检测（TC）
• 高温存储检测（HTSL）
• 数字输入高电平电压
• 数字输入低电平电压
• 数字输入高电平电流
• 电源电压灵敏度
• 数字输出低电平电压
• 数字输出高电平电压
• 电压调整率SV
• 输入电流II
• 输出电压VO
• 输出纹波电压VRIP
• 电流调整率S I
• 输出电压
• 电压调整率
• 电流调整率
• 输入电流
• 输出纹波电压
• 电流调整率S
• 输出电压V
• 电压调整率S
• 输出纹波电压V
• 输入电流I
• 静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）
• 静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）
• 绝缘电阻
• 输出电流
• 输出电流I O
• 输出纹波电压（峰-峰值）
• 增益误差
• 线性误差
• 微分线性误差
• 功耗
• 信噪比
• 信噪失真比
• 总谐波失真
• 有效位
• 无失真动态范围
• 互调失真
• 失码
• 最低工作频率
• 最高工作频率
• 转换时间
• 零点误差
• 交叉调整率VC
• 效率 η
• 效率
• 交叉调整率V
• 功能性能检测
• 湿敏等级检测
• 电气参数检测
• 芯片的 DPI 传导抗扰度
• 芯片的 EFT 传导抗扰度
• 芯片的 PESD 传导抗扰度
• 芯片辐射电场抗扰度
• 闩锁检测（Latch-up）
• 预处理检测
• 交叉调整率

检测范围

检测范围覆盖辐射检测领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

兆欧表法：施加规定直流电压测量绝缘电阻

绝缘电阻遥测法：评估湿热试验前后绝缘性能变化

表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率

静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度

检测仪器

• 绝缘电阻测试仪（兆欧表）
• 直流高压发生器
• 高阻计
• 表面电阻测试仪
• 静电放电发生器

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

T/CIE 068-2020 工业级高可靠集成电路评价 第 2 部分： DC/DC 变换器 T/CIE 068-2020

SJ 20646-1997《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》

SJ 20961-2006《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.2.2》

T/CIE068-2020 高温存储检测（HTSL）

T/CIE 068-2020 工业级高可靠集成电路评价 第 2 部分： DC/DC 变换器 5.6.3

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。