集成电路IC（卡）读写机检测

集成电路IC（卡）读写机检测：常见项目59项，包括冲击试验、可靠性及寿命等；适用标准以GB 4943.1等现行有效版本为准。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

• 冲击试验
• 可靠性及寿命
• 可靠性
• 冲击
• 低温试验
• 恒定湿热
• 高温试验
• 工作条件恒定湿热试验
• 工作温度上限试验
• 工作温度下限试验
• 贮存条件恒定湿热试验
• 贮存温度上限试验
• 贮存温度下限试验
• 电磁兼容
• 电磁兼容性（EMI（、电磁兼容性）EMS）
• 电磁兼容性
• 电磁兼容要求
• 外观与结构要求
• 外观和结构
• 外观结构要求
• 外观也结构要求
• 外观
• 外观与结构
• 外观检查
• 包装跌落
• 电源适应能力
• 碰撞
• 振动试验
• 运输包装件跌落试验
• 功能
• 环境要求
• 数据安全
• 安全
• 环境适应性
• 无线电骚扰
• 抗扰度
• 卡座
• 字符及输出
• 存储器
• 机械环境适应性（振动、跌落）
• 气候环境适应性
• 电源
• 相互确认时间
• 脱机工作能力
• 通信
• 键盘
• 互相确认时间
• 字符及其输出
• 脱机工作功能
• 通信功能
• 在线IC卡终端设备
• 环境试验
• 离线IC卡终端设备
• 机械环境条件
• 气候环境条件
• 碰撞试验
• 环境
• 功能试验
• 安全检查

检测范围

适用于环境领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

发射测试：测量电源端传导骚扰与辐射骚扰电平

抗扰度测试：施加规定的骚扰量，观察工作状态变化

摆锤冲击试验：测定冲击吸收功，评价材料韧性

低温冲击试验：在设定低温下进行冲击，评估韧脆转变行为

检测仪器

• EMI接收机
• 人工电源网络
• 电波暗室
• 静电放电发生器
• 冲击试验机
• 低温槽
• 落锤冲击试验机

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB 4943.1-2011《信息技术设备 安全 第1部分：通用要求》

CJ/T 166-2014《建设事业集成电路（IC）卡应用技术条件 6.2.1.2》

GB/T 18239-2000《集成电路（IC卡）读写机通用规范》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。