CMOS数字集成电路检测
CMOS数字集成电路检测：常见项目28项，包括温度循环、电源电流等；适用标准以GB/T 17574-1998等现行有效版本为准。
检测项目
热学性能
温度循环
电学性能
- 电源电流
- 输入电流
- 输出低电平电压
- 输出低电平电流
- 输出高电平电压
- 输出高电平电流
- 输出低电平电压VOL
- 输出高电平电压VOH
- 静态条件下电源电流
- 电源电流I DD
- 输入低电平电流I IL
- 输入电流I I
- 输入高电平电流I IH
- 输出低电平电流I OL
- 输出高电平电流I OH
- 输出高阻态时低电平电流
- 输出高阻态时高电平电流
- 输入高电平电流
- 输入低电平电流
- 输入钳位电压V IK
- 输出高阻态电流I OZH
- 输出高阻态电流I OZL
- 输出短路电流I OS
- 输出高阻态电流I oz
- 功能检验
- 稳定性烘焙
- 老炼试验
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标
性能参数测试：测量电气参数与功能性能
检测仪器
- 耐压测试仪
- 绝缘电阻测试仪
- 数字万用表
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》
SJ/T 10741-2000《IIH 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 IIH》
SJ/T 10805-2018《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1010.1
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
