集成电路-AD 和 DA 转换器检测

集成电路-AD 和 DA 转换器检测：常见项目17项，包括早夭期寿命检测、高温工作寿命检测等，具体项目以委托确认与适用标准为准。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）、静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）

• 早夭期寿命检测
• 高温工作寿命检测
• 低温工作寿命检测
• 无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)
• 高加速温湿度寿命检测（HAST）
• 高温存储检测（HTSL）
• 温度循环检测（TC）
• ADC特性检测
• 湿敏等级检测
• 预处理检测
• 闩锁检测（Latch-up）
• 芯片辐射电场抗扰度
• 芯片的 DPI 传导抗扰度
• 芯片的 EFT 传导抗扰度
• 芯片的 PESD 传导抗扰度
• DAC特性检测

检测范围

适用于辐射检测领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率

静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度

发射测试：测量电源端传导骚扰与辐射骚扰电平

抗扰度测试：施加规定的骚扰量，观察工作状态变化

检测仪器

• 高阻计
• 表面电阻测试仪
• 静电放电发生器
• EMI接收机
• 人工电源网络
• 电波暗室

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

T/CIE 072-2020 工业级高可靠集成电路评价 第 7 部分： AD 和 DA 转换器 5.4

T/CIE072-2020 早夭期寿命检测

T/CIE 072-2020 工业级高可靠集成电路评价 第 7 部分： AD 和 DA 转换器 T/CIE 072-2020

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。