CMOS集成电路检测
CMOS集成电路检测：常见项目120项，包括A/D增益误差温度系数、A/D微分线性误差温度系数等，依据GB/T 17574-1998等标准执行，判定以标准条款为。
检测项目
热学性能
电学性能
- A/D增益误差温度系数
- A/D微分线性误差温度系数
- A/D线性误差温度系数
- A/D零点误差温度系数
- D/A增益误差温度系数
- D/A失调误差温度系数
- D/A微分线性误差温度系数
- D/A线性误差温度系数
- 调整输出电压的温度系数
- 输入偏置电流温度系数
- 输入失调电压温度系数
- 输入失调电流温度系数
- A/D数字输入低电平电压
- A/D数字输入低电平电流
- A/D数字输入高电平电压
- A/D数字输入高电平电流
- A/D数字输出低电平电压
- A/D数字输出高电平电压
- D/A基准电压
- D/A数字输入低电平电压
- D/A数字输入低电平电流
- D/A数字输入高电平电压
- D/A数字输入高电平电流
- D/A电源电压灵敏度
- 共模输入电压范围
- 动态条件下的总电源电流
- 基准电压
- 差分放大器的输出电压范围（仅直流测试）
- 差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压
- 开环电压放大倍数
- 截止态和导通态电流（对模拟信号开关电路）
- 电源电压抑制比
- 电源电流
- 短路电流
- 输入低电平电流
- 输入箝位电压
- 输入高电平电流
- 输出低电平电压
- 输出电压最大变化率
- 输出短路电流
- 输出高电平电压
- 输出高阻态电流
- 静态导通电阻
- 静态条件下的电源电流
- （运算放大器）短路输出电流
- 输入钳位电压
- 输出高阻态时低电平电流
- 输出高阻态时高电平电流
- 动态条件下的总电源电流I CC
- 输入低电平电压V IL
- 输入低电平电流I IL
- 输入箝位电压V IK
- 输入阈值电压V IT+
- 输入阈值电压V IT-
- 输入高电平电压V IH
- 输入高电平电流I IH
- 输出低电平电压V OL
- 输出低电平电流I OL
- 输出短路电流I OS
- 输出高电平电压V OH
- 输出高电平电流I OH
- 输出高阻态电流I OZH
- 输出高阻态电流I OZL
- 静态条件下的电源电流I DD
- 输出高阻态电流IOZ
- 静态条件下的电源电流IQ
- 输入失调电流
- 输入偏置电流
- 输出高电平电流
- 输出低电平电流
- 输入低电平电压
- 输入高电平电压
- 输出低阻态时低电平电流
- A/D互调失真
- A/D信噪失真比
- A/D信噪比
- A/D功耗
- A/D增益误差
- A/D失码
- A/D微分线性误差
- A/D总谐波失真
- A/D无失真动态范围
- A/D最低工作频率
- A/D最高工作频率
- A/D有效位数
- A/D线性误差
- A/D转换时间
- A/D零点误差
- D/A互调失真
- D/A信噪失真比
- D/A信噪比
- D/A功耗
- D/A增益误差
- D/A失调误差
- D/A建立时间
- D/A微分线性误差
- D/A总谐波失真
- D/A无失真动态范围
- D/A有效位数
- D/A线性误差
- 信号增益
- 噪声系数
- 共模抑制比
- 导通时间和截止时间
- 开环性能（增益、带宽、失真、动态范围）
- 截止频率
- 数字集成电路的功能检验方法
- 自动增益控制范围
- 表征电路的时间
- 输出性能（功耗）
- 功能测试
- 传输时间t PHL
- 传输时间t PLH
- 保持时间t h
- 建立时间t su
- 输出允许时间t PZH
- 输出允许时间t PZL
- 输出禁止时间t PHZ
- 输出禁止时间t PLZ
- 输出允许时间
检测范围
适用于环境领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标
声压级测量：在规定测点与工况下测量噪声声压级
检测仪器
- 频谱分析仪
- 示波器
- 信号发生器
- 网络分析仪
- 声级计
- 声校准器
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
SJ 20961-2006《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.2.11》
GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》
SJ/T 10741-2000
GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》
MIL-STD- 883L:2019 微电路测试方法 MIL-STD-883L:2019
MIL-STD-883L:2019 微电路测试方法 4006.1
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
