集成电路（模拟开关）检测

集成电路（模拟开关）检测：电子领域检测服务，常见项目42项，包括导通电阻温度漂移率、导通态漏电流等，依据GB/T 14028-2018等公开标准执行。

检测项目

热学性能

导通电阻温度漂移率

电学性能

• 导通态漏电流
• 导通电阻
• 截止态源极漏电流
• 截止态漏极漏电流
• 电源电流
• 输入低电平电流
• 输入钳位电压
• 输入高电平电流
• 输出低电平电压
• 输出高电平电压
• 导通态漏电流IDS(on)
• 导通电阻Ron
• 导通电阻路差ΔRon
• 截止态源级漏电流IS（off）
• 截止态漏极漏电流ID（off）
• 输入低电平电流I IL
• 输入高电平电流I IH
• 静态工作电源电流I DD
• 导通电阻路差
• 导通电阻路差率
• 截止态漏极漏电流/截止态源极漏电流
• 模拟电压工作范围
• 双向开关截止电流
• 导通态漏电流IDS（on）
• 导通电阻路差△Ron
• 截止态漏电流ID（off）
• 截止态源极漏电流I S(off)
• 截止态漏极漏电流I D(off)
• 静态工作电源电流
• 输出低电平电压 V OL
• 输出高电平电压 V OH
• 静态条件下的电源电流 I DD
• 截止态源极漏电流 I S（OFF）
• 逻辑端输入电流
• 静态条件下的电源电流
• 截止态源极漏电
• 导通态漏极漏电流
• 电源电流I DD
• 关断时间
• 开启时间
• 通道转换时间
• 开启时间/关断时间
• 功能测试

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

电导率仪法：测定溶液电导率表征离子总量

检测仪器

• 电导率仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

SJ/T 10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

GB/T 14028-2018《半导体集成电路模拟开关测试方法 2.6》

GB/T 17574-1998《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇》

GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第III篇第6节 5.1.1》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。