采样保持放大器检测
采样/保持放大器检测：电子领域检测服务，常见项目14项，包括跌落电流I DR、采样-保持失调电压V OS等，依据GB/T 17574-1998等公开标准执行。
检测项目
电学性能
- 跌落电流I DR
- 采样-保持失调电压V OS
- 跌落电流
- 输出低电平时电源电流
- 输出高电平时电源电流
- 采样-保持失调电压
- 电源电流
- 输入低电平电流
- 输入电流
- 增益误差E G
- 增益误差
- 线性误差
- 采集时间
- 馈通误差
检测范围
检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。
检测方法
振动试验：随机或正弦振动激励，考核结构可靠性
冲击/跌落试验：半正弦冲击或自由跌落考核包装与结构
检测仪器
- 振动试验台
- 冲击试验台
- 跌落试验机
检测标准
常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：
GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第2部分 数字集成电路》
GB/T 14115-1993《半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
