采样保持放大器检测

采样保持放大器检测：电子领域检测服务，常见项目14项，包括跌落电流IDR、跌落电流等，依据GB/T 17574-1998等公开标准执行。

检测项目

电学性能

• 跌落电流IDR
• 跌落电流
• 输出低电平时电源电流
• 输出高电平时电源电流
• 采样-保持失调电压
• 采样-保持失调电压 V OS
• 电源电流
• 输入低电平电流
• 输入电流
• 增益误差EG
• 增益误差
• 线性误差
• 采集时间
• 馈通误差

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

振动试验：随机或正弦振动激励，考核结构可靠性

冲击/跌落试验：半正弦冲击或自由跌落考核包装与结构

检测仪器

• 振动试验台
• 冲击试验台
• 跌落试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第2部分 数字集成电路》

GB/T 14115-1993《半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。