采样保持放大器检测
采样、保持放大器检测：常见项目14项，包括跌落电流I DR、采样-保持失调电压V OS等，依据GB/T 17574-1998等标准执行，判定以标准条款为准。
检测项目
电学性能
- 跌落电流I DR
- 采样-保持失调电压V OS
- 跌落电流
- 输出低电平时电源电流
- 输出高电平时电源电流
- 采样-保持失调电压
- 电源电流
- 输入低电平电流
- 输入电流
- 增益误差E G
- 增益误差
- 线性误差
- 采集时间
- 馈通误差
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
振动试验：随机或正弦振动激励，考核结构可靠性
冲击/跌落试验：半正弦冲击或自由跌落考核包装与结构
检测仪器
- 振动试验台
- 冲击试验台
- 跌落试验机
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第2部分 数字集成电路》
GB/T 14115-1993《半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
