半导体器件（二极管）检测

半导体器件（二极管）检测：电子产品检测项目与标准依据说明，常见项目3项，包括击穿电压、反向电流等。

检测项目

电学性能

• 击穿电压
• 反向电流
• 正向电压

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

工频/直流耐压试验：按规定的升压速率施加电压，评价介质耐压能力

检测仪器

• 耐压测试仪
• 击穿电压测试仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 6571-1995《半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》

GB/T 4023-2015《半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 第Ⅳ章》

GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法4023

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。