半导体器件集成电路存储器检测
半导体器件集成电路存储器检测：常见项目14项，包括动态条件下的总电源电流、输入低电平电流I IL等，依据GB/T 17574-1998等标准执行，判定以标准条款
检测项目
电学性能
- 动态条件下的总电源电流
- 输入低电平电流I IL
- 输入高电平电流I IH
- 输出低电平电压V OL
- 输出高电平电压V OH
- 输出高阻态时低电平电流I OZL
- 输出高阻态电流I OZ
- 静态条件下的电源电流
- 输出高阻态电流I OZH
- 功能测试（全0全1、AA、互补读写、Match算法等）
- 存储器的特定时间
- 存储器的特定时间：写恢复时间
- 存储器的特定时间：读存取时间
- 延迟时间
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标
性能参数测试：测量电气参数与功能性能
检测仪器
- 耐压测试仪
- 绝缘电阻测试仪
- 数字万用表
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 17574-1998《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
