晶体硅光伏方阵检测

晶体硅光伏方阵检测：常见项目5项，包括方阵有效结温、红外热成像等，依据IEC 61829等标准执行，判定以标准条款为准。

检测项目

热学性能

• 方阵有效结温
• 红外热成像
• I-V特性现场测量
• 方阵I-V特性
• 光伏（PV）方阵特性

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：同时测定多种金属元素含量

滴定分析法：用于钙、镁等常量元素的容量法测定

X射线衍射法（XRD）：测定物相组成与晶体结构

光谱分析法：按吸收/发射特性对组分进行定性与定量

检测仪器

• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 自动电位滴定仪
• 分析天平
• X射线衍射仪
• 红外光谱仪
• 紫外-可见分光光度计
• 荧光光谱仪

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

IEC 61829《晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量》

GB/T 18210-2000《晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量》

IEC TS 62446-3-2017 光伏 (PV) 系统 测试、文档和维护要求 第3部分:红外测温仪的光伏发电站和模块户外检验

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。