晶体硅光伏方阵光伏组件检测

晶体硅光伏方阵/光伏组件检测：电子产品检测项目与标准依据说明，常见项目1项，包括光伏)PV(方阵特性。

检测项目

光伏)PV(方阵特性

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：同时测定多种金属元素含量

滴定分析法：用于钙、镁等常量元素的容量法测定

X射线衍射法（XRD）：测定物相组成与晶体结构

检测仪器

• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 自动电位滴定仪
• 分析天平
• X射线衍射仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 18210-2000《晶体硅光伏（PV）方阵I-V特性的现场测量》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。