时基电路检测

时基电路检测:常见项目40项,包括复位电压、复位电流等;适用标准以GB/T 17574-1998等现行有效版本为准。

检测项目

电学性能

最高振荡频率

  • 复位电压
  • 复位电流
  • 控制端电压
  • 触发电压
  • 触发电流
  • 阈值电压
  • 阈值电流
  • 静态电源电流
  • 复位电压V R
  • 复位电流I R
  • 控制端电压V C
  • 触发电压V TR
  • 触发电流I TR
  • 输出低电平电压V OL
  • 输出高电平电压V OH
  • 阈值电流I T
  • 静态电源电流I D
  • 阈值电压V T
  • 静态电源电流I +
  • 控制电压
  • 电源电流
  • 电源电压灵敏度
  • 输入低电平电流
  • 输入高电平电流
  • 阀值电压
  • 阀值电流
  • 输出低电平电压
  • 输出高电平电压
  • 控制电压VC
  • 电源电流IS
  • 阈值电压VTH
  • 阈值电流ITH
  • 复位触发电流 I R
  • 阈值电流 I TR
  • 阙值电流
  • 高电平电压
  • 低电平电压
  • 释放电压
  • 释放电流

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检;样品要求依适用标准规定,委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

频谱分析法/时域测量法:测量信号频谱特性与传输性能指标

浸泡/迁移试验:以规定模拟液浸泡,测定迁移物含量

检测仪器

  • 频谱分析仪
  • 示波器
  • 信号发生器
  • 网络分析仪
  • 恒温水浴锅
  • 迁移试验池
  • 紫外-可见分光光度计

检测标准

常见适用标准如下;标准存在更新或替代时,以委托时现行有效版本为准:

GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》

GB/T 14030-1992《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理,所引标准以现行有效版本为准。

半导体三极管检测
返回列表
猜您喜欢......
返回顶部小火箭