数显卡尺检测
数显卡尺检测：电子产品检测项目与标准依据说明，常见项目41项，包括两测量爪伸出长度差、测量面的硬度等。
检测项目
力学性能
热学性能
电学性能
耐久性能
- 两测量爪伸出长度差
- 测量面的硬度
- 温度变化试验
- 湿热试验
- 温度变化实验
- 湿热实验
- 工作电流
- 抗电磁干扰实验
- 抗静电干扰实验
- 防尘防水试验
- 防水实验
- 圆弧内测量爪合并宽度的实际偏差及圆弧内测量面的平行度
- 外观
- 圆弧内测量爪合并宽度的实际偏差及其圆弧内测量面的平行度
- 刀口形内测量爪的尺寸偏差
- 圆弧形内测量爪尺寸偏差
- 电子数显器的性能
- 通讯接口
- 电子数显器性能
- 相互作用
- 数显卡尺
- 测量面的表面粗糙度
- 平面度
- 平行度及合并间隙
- 标志与包装
- 数显卡尺检定校准
- 两刀口内量爪相对平面间的间隙
- 两外测量面的合并间隙
- 刀口形内测量爪的平行度
- 响应速度
- 圆弧形内测量爪的平行度
- 外测量示值误差
- 外测量面的平面度
- 数值漂移
- 测台示值误差
- 测深示值误差
- 重复性
- 防尘
- 外测量面的平行度
- 电子数显卡尺检定校准
- 最大允许误差
检测范围
检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。
检测方法
表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率
静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度
疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线
耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核
检测仪器
- 高阻计
- 表面电阻测试仪
- 静电放电发生器
- 疲劳试验机
- 电液伺服试验机
检测标准
常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：
通用卡尺检定规程JJG30
JJG30 通用卡尺检定规程
JJG30-2012 通用卡尺检定规程
DB32/T186-2015F08911
GB/T 21389-2008《游标、带表和数显卡尺》
GB/T 21388-2008《游标、带表和数显深度卡尺》
DB32/T186-2015F09123
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
