电子数显卡尺检测
电子数显卡尺检测：常见项目24项，包括两测量爪伸出长度差、测量面的硬度等；适用标准以GB/T 21389-2008等现行有效版本为准。
检测项目
力学性能
热学性能
电学性能
耐久性能
防水实验
- 两测量爪伸出长度差
- 测量面的硬度
- 温度变化实验
- 湿热实验
- 工作电流
- 抗电磁干扰实验
- 抗静电干扰实验
- 刀口形内测量爪的尺寸偏差
- 圆弧形内测量爪尺寸偏差
- 两刀口内量爪相对平面间的间隙
- 两外测量面的合并间隙
- 刀口形内测量爪的平行度
- 响应速度
- 圆弧形内测量爪的平行度
- 外测量示值误差
- 外测量面的平面度
- 数值漂移
- 测台示值误差
- 测深示值误差
- 重复性
- 防尘
- 外测量面的平行度
- 电子数显卡尺检定校准
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率
静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度
疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线
耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核
检测仪器
- 高阻计
- 表面电阻测试仪
- 静电放电发生器
- 疲劳试验机
- 电液伺服试验机
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 21389-2008《游标、带表和数显卡尺》
JJG 30 通用卡尺检定规程
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
