光电耦合器检测

光电耦合器检测：环境领域检测服务，常见项目102项，包括冲击、温度循环等，依据GB/T 15651.3等公开标准执行。

检测项目

力学性能

冲击

热学性能

电学性能

• 温度循环
• 温度贮存
• 交变湿热试验方法
• 存储温度
• 温度变化
• 湿热
• 绝缘材料的限制温度
• 高温
• 电流传输比h F(ctr)
• 集电极-发射极饱和电压V CE(sat)
• 反向击穿电压
• 反向电流
• 正向电压
• 电流传输比
• 输出截止电流
• 集电极-发射极击穿电压
• 集电极-发射极饱和电压
• 暗电流（I CEO）
• 集电极发射极饱和电压（V CEsat）
• 反向电流（二极管（、正向电压）输入二极管）
• 反向击穿电压（二极管）
• 反向电流（二极管）
• 正向电压（输入二极管）
• 集电极-发射极饱和电压降
• 反向直流电流
• 发射极-基极击穿电压
• 发射极-基极电流
• 基极-发射极饱和电压
• 正向直流电压
• 集电极-发射极电压
• 集电极-发射极电流
• 集电极-基极击穿电压
• 集电极-基极电流
• 集电极-发射极截止电流
• 二极管正向电流
• 低电平电源电流
• 正向电压（二极管）
• 维持电流
• 输出低电平电压
• 输出高电平电压
• 通态直流电压
• 隔离电压
• 零位电压
• 高电平电源电流
• 正向电流
• 正向电流（二极管）
• 结电容
• 反向电流IR
• 正向电压V F
• 电流传输比CTR
• 输出截止电流I CEO
• 集电极-发射极击穿电压V (BR)CEO
• 集电极-发射极截止电流 I CEO
• 基极开路时的最大集电极－发射极电压
• 最大反向输入直流电压
• 输入二级管反向电流
• 输入二级管正向电压
• 集电极－发射极暗电流或集电极－基极暗电流（适用时）
• 集电极－发射极饱和电压或集电极－基极电压（适用时）
• 反向击穿电压V BR
• 反向漏电流I R
• 正向电流I F
• 电流传输比CTR （Ic）
• 光电耦合器的集电极-发射极的饱和电压VCE(sat)
• 峰值关断电流IDRM
• 绝缘材料试验
• 输入-输出电容
• 输入-输出隔离电阻
• 集电极-发射极饱和电压（直流法）
• 集电极-发射极饱和电压（脉冲法）
• 正向压降
• 正向压降(V F )
• 上升传输延迟时间
• 下降传输延迟时间
• 传递系数
• 脉冲上升时间
• 脉冲下降时间
• 非线性度
• 上升时间/开通时间/下降时间/关断时间
• 上升时间/开通时间
• 下降时间/关断时间
• 光电耦合器的局部放电
• 光电耦合器的开关时间ton
• toff
• 可燃性试验
• 外部爬电距离
• 外部电气间隙
• 密封
• 振动
• 最终测试
• 最终试验
• 标记
• 标签
• 以及规格书的信息
• 检验
• 相比电痕化指数
• 试验和检验
• 陶瓷材料
• 隔离测试
• 隔离试验
• 预处理

检测范围

检测范围覆盖环境领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

工频/直流耐压试验：按规定的升压速率施加电压，评价介质耐压能力

尺寸测量法：测量电气间隙与爬电距离，对照限值判定

摆锤冲击试验：测定冲击吸收功，评价材料韧性

低温冲击试验：在设定低温下进行冲击，评估韧脆转变行为

检测仪器

• 耐压测试仪
• 击穿电压测试仪
• 卡尺
• 投影仪
• 影像测量仪
• 冲击试验机
• 低温槽
• 落锤冲击试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 15651.3-2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-3部分： 光电子器件测试方法 5.1》

GJB 4508-2002 光电器件环境应力筛选通用要求 5.2.4

GB/T 15651-1995《半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件 第Ⅳ章 第3节》

SJ/T 2215-2015《半导体光电耦合器测试方法》

IEC 60747《-5-5:2007+A1:2013 半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器 7.4.3.2.1》

SJ/ 2215-2015《半导体光电耦合器测试方法》

GB/T 15651.2《－2003 半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 7.6.10》

GB/T 6571-1995《半导体器件分立器件第3部分 信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节1条 第Ⅳ章第1节2条》

GB/T 4587-1994《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条》

GB/T 15651.2-2003《半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

GB/T 4023-2015《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。