光电耦合器（晶体管输出）检测

光电耦合器（晶体管输出）检测：电子领域检测服务，常见项目3项，包括电流传输比、光电晶体管的集电极-发射极饱和电压等，依据GB/T 15651.3等公开标准执行。

检测项目

电学性能

• 电流传输比
• 光电晶体管的集电极-发射极饱和电压
• 光电二极管的暗电流和光电晶体管的暗电流

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

X射线衍射法（XRD）：测定物相组成与晶体结构

检测仪器

• X射线衍射仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 15651.3-2003《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 5.1》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。