晶体管参数检测
晶体管参数检测：常见项目14项，包括基极-发射极饱和电压VBEsat、集电极-发射极饱和电压VCEsat等，依据GB/T4586-1994等标准执行，判定以标准。
检测项目
电学性能
- 基极-发射极饱和电压VBEsat
- 集电极-发射极饱和电压VCEsat
- 发射极-基极击穿电压V(BR)EBO
- 集电极-发射极截止电流ICEO
- 集电极-发射极击穿电压V(BR) CEO
- 发射极-基极截止电流IEBO
- 集电极-基极截止电流ICBO
- 集电极-基极击穿电压V(BR)CBO
- 栅-源阈值电压VGS(th)
- 栅极截止电流IGSS
- 漏极截止电流IDSS
- 放大倍数hFE
- 晶体管参数测量仪检定校准
- 晶体管参数测试仪检定校准
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
工频/直流耐压试验：按规定的升压速率施加电压，评价介质耐压能力
X射线衍射法（XRD）：测定物相组成与晶体结构
检测仪器
- 耐压测试仪
- 击穿电压测试仪
- X射线衍射仪
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 4586-1994《半导体器件 分立器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章 6》
GB/T 4587-1994《半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节5》
JJG(电子) 310002;JJG（电子）04004 半导体分立器直流参数测试系统检定规程 JJG(电子) 310002、BJ2911(HQ-1B)型晶体管综合参数测试仪检定规程 JJG（电子）04004
JJG725 晶体管直流和低频参数测试仪检定规程
JJF 1236 半导体管特性图示仪校准规范
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
