场效应晶体管参数检测

场效应晶体管参数检测：电子产品检测项目与标准依据说明，常见项目3项，包括栅-源阈值电压VGS(th)、栅极截止电流IGSS等。

检测项目

电学性能

• 栅-源阈值电压VGS(th)
• 栅极截止电流IGSS
• 漏极截止电流IDSS

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

X射线衍射法（XRD）：测定物相组成与晶体结构

检测仪器

• X射线衍射仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 4586-1994《半导体器件 分立器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章 6》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。