发光二极管检测
发光二极管检测：常见项目67项，包括半强度角和角偏差（θ1/2）、平均LED强度等；适用标准以GB/T 15651-1995等现行有效版本为准。
检测项目
力学性能
热学性能
电学性能
化学性能
- 半强度角和角偏差（θ1/2）
- 平均LED强度
- 发光强度
- 光通量维持寿命
- 半强度角θ1/2
- 发光强度Iv（平均LED强度）
- LED器件平均发光强度
- 半强度角
- 热阻
- 白光器件色温或相关色温
- 结温
- 高发光效率器件的热阻
- 相关色温
- 人体模式静电放电敏感性
- 总电容
- 机器模式静电放电敏感性
- 电压参数
- 电流参数
- 反向电压
- 反向电流
- 正向电压
- 反向漏电流
- 正向导通电压
- 反向电流IR
- 正向电压VF
- 主波长和颜色刺激纯度
- 颜色刺激纯度
- 尺寸
- 色差
- 外观检查
- 尺寸测量
- 光通维持率
- LED平均光强测量
- 光通量测量（积分光度法）
- 光电及色度特性
- 极限值（绝对最大额定值体系）
- 标志
- K系数
- 光通量和光通量效率
- 峰值发射波长（λp）
- 光谱带宽和光谱功率分布
- 开关时间
- 机械资料（安装和焊接条件）
- 白光器件的显色指数
- 色品坐标
- 辐射功率和辐射效率
- X射线照相
- 主波长
- 光谱范围
- 光通量
- 内部检查
- 发光指向角
- 峰值波长
- 扫描电子显微技术和电子束显微分析
- 探针测试
- 横截面
- 光谱辐射带宽Δλ
- 峰值发射波长λP
- 总光通量
- 显色指数(Ra)
- 角偏差
- 辐射效率
- 辐射通量
- 色度学参数
- 光谱分布及其特性参数
- 光通量效率
- 光谱功率分布
检测范围
适用于辐射检测领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率
静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度
频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标
疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线
耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核
检测仪器
- 高阻计
- 表面电阻测试仪
- 静电放电发生器
- 频谱分析仪
- 示波器
- 信号发生器
- 网络分析仪
- 疲劳试验机
- 电液伺服试验机
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
IES LM-80-08 LED光源光通维持率的测量
SJ/T 11394-2009《半导体发光二极管测试方法 5.6.2》
GB/T 15651-1995《半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件 (-5:1997)》
IEC 60747《半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件 (-5:1997)》
GB/T 18904.3《－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 8》
GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 5003-3.1.4、3.2.7
GB/T 12565-1990《半导体器件 光电子器件分规范》
GB/T 15651.3-2003《半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法》
JESD22-B101C-2015 外观检查
GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 方法5003 3.4 e)
JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法
SJ/T 11393-2009《半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范》
SJ/T 11400-2009《半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范》
QB/T 4057-2010《普通照明用发光二极管 性能要求》
GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 1003-2.3
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
