现场可编程门阵列检测
现场可编程门阵列检测：电子领域检测服务，常见项目21项，包括输入低电平电流I IL、输入高电平电流I IH等，依据公开标准执行。
检测项目
电学性能
- 输入低电平电流I IL
- 输入高电平电流I IH
- 输出低电平电压V OL
- 输出高电平电压V OH
- 输出高电平电压和输出低电平电压
- 输入高电平电流和输入低电平电流
- 上电电流
- 带上拉电阻的引出端输入电流
- 带下拉电阻的引出端输入电流
- 数据保持电压
- 输入低电平漏电流
- 输入低电平电压
- 输入高电平漏电流
- 输入高电平电压
- 输出低电平电压
- 输出高电平电压
- 静态内核电源电流
- 静态接口电源电流
- 功能测试
- 建立保持时间
- 输入输出延迟时间
检测范围
检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。
检测标准
常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：
SJ/T 11706-2018《半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 5.4》
SJT 11706-2017《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
