SRAM型现场可编程门阵列检测
SRAM型现场可编程门阵列检测：常见项目13项，包括带上拉电阻的引出端输入电流、带下拉电阻的引出端输入电流等，具体项目以委托确认与适用标准为准。
检测项目
电学性能
- 带上拉电阻的引出端输入电流
- 带下拉电阻的引出端输入电流
- 数据保持电压
- 输入低电平漏电流
- 输入低电平电压
- 输入高电平漏电流
- 输入高电平电压
- 输出低电平电压
- 输出高电平电压
- 静态内核电源电流
- 静态接口电源电流
- 建立保持时间
- 输入输出延迟时间
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
SJ/T 11706-2018《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
