输出高阻态时低电平电流IOZL检测

输出高阻态时低电平电流IOZL检测:电子领域检测服务,常见项目1项,包括输出高阻态时低电平电流IOZL,依据GB/T17574-1998等公开标准执行。

检测项目

电学性能

输出高阻态时低电平电流IOZL

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型;样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测标准

常用标准与依据如下,所引标准如遇更新、替代或废止,以现行有效版本为准:

SJ/T 10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

GB/T 17574-1998《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节 第5条》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理,所引标准以现行有效版本为准。

芯片剪切强度检测
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