元器件检测

元器件检测:常见项目75项,包括冲击、剪切强度等,依据GB/T 2423.19等标准执行,判定以标准条款为准。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

化学性能

盐雾试验

  • 冲击
  • 剪切强度
  • 短路可靠性
  • 端子强度
  • 绑线强度
  • 芯片剪切
  • 键合强度
  • 引出端强度
  • 加速试验(寿命试验)
  • 引线涂敷附着强度
  • 粘接强度
  • 冲击试验
  • 湿热
  • 耐焊接热
  • 温度循环
  • 耐焊接热试验
  • 日用管状电热元件
  • 高温贮存
  • 温度变化试验
  • 恒定湿热试验
  • 交变湿热试验
  • 温度变化
  • 介电性
  • 静电放电
  • 交流电动机电容器
  • 静电放电敏感度
  • 电容值
  • 物理尺寸
  • 外部目检和外观及机械检查
  • 二氧化硫
  • 可焊性试验
  • 可燃性
  • 密封性
  • 振动
  • 润湿力
  • 混合气流测试
  • 溶剂抵抗
  • 破坏性物理分析
  • 钳位感应开关
  • 高压蒸煮
  • 推力测试
  • 密封试验
  • 恒定加速度
  • 稳定性烘焙
  • 粒子碰撞噪声检测试验
  • 老炼试验
  • 可焊性测试
  • 可焊性(浸润法)
  • 金属层抗溶解性
  • 金属化层耐溶蚀性
  • 耐溶剂性
  • BGA焊球推剪力
  • 连接器件
  • 端接件
  • 外部目检
  • 开封
  • 内部目检
  • 制样镜检
  • 玻璃钝化层完整性检查
  • 密封
  • 声学扫描显微镜检查
  • 粒子碰撞噪声检测
  • 扫描声学显微镜检查
  • Q值
  • 损耗角正切
  • 高加速应力测试(HAST)
  • 时延
  • 密封性检查
  • 振动试验
  • SEM形貌分析
  • 元素分析
  • 内部检查
  • 外部检查
  • 电性能确认

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检;样品要求依适用标准规定,委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

电桥法/谐振法:测定材料介电常数与介质损耗因数

表面/体积电阻测试:施加标准电压测量电阻值并换算电阻率

静电放电试验:模拟人体静电放电考核产品抗扰度

频谱分析法/时域测量法:测量信号频谱特性与传输性能指标

检测仪器

  • 介电常数测试仪
  • LCR测试仪
  • 高阻计
  • 表面电阻测试仪
  • 静电放电发生器
  • 频谱分析仪
  • 示波器
  • 信号发生器
  • 网络分析仪

检测标准

常见适用标准如下;标准存在更新或替代时,以委托时现行有效版本为准:

JESD22-A102E:2015 加速耐湿性无偏压试验

GB/T 2423.19-2013《-2-42:2003 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验》

IEC 60068《-2-42:2003 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验》

JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则 6

MIL-STD- 883K:2016 微电子试验方法 MIL-STD-883K:2016

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法112

GJB 920A-2002 《膜固定电阻网络总规范》 GJB920A-2002

GJB 1929-1994 《高稳定薄膜固定电阻器总规范》 GJB1929-1994

MIL-STD-883K:2016 微电子试验方法 方法2003.12

GB/T 3667.1-2016《IEC60252-1:2013 交流电动机电容器 第1部分:总则 性能、试验和额定值 安全要求 安装和运行导则》

JEDEC JESD22-B100B:2016 物理尺寸

JEDECJESD 22-A110E.01:2021 高加速温湿度应力测试 JEDECJESD22-A110E.01:2021

GJB 1862-1994 《有可靠性指标的精密固定电阻器总规范》 GJB1862-1994

GB/T 17464-2012

JEDEC JESD22-A101D:2015 稳态温湿度偏差寿命试验

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1031

MIL MIL-STD-750-2A CHANGE 3:2018方法2036 半导体分立器件物理性能试验 第二部分

MIL-STD-883J:2013 微电路失效分析程序方法: 5003 方法5003 3.1.4

JEDEC JESD22-A109B:2011 密封性

AEC-Q101-006:2006 适用于12V系统的智能电力设备的短路可靠性

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理,所引标准以现行有效版本为准。

片式固定电阻器DPA分析检测
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