内部目检检测

内部目检检测：电子领域检测服务，常见项目1项，包括内部目检，依据公开标准执行。

检测项目

内部目检

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

MIL-STD-1580B 电气、电子和机电元器件破坏性物理分析方法

GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法2075

PEM-INST-001 塑封微电路选择、筛选及鉴定程序 方法5.3.5

MIL-STD-883K 微电子器件试验方法和程序 方法2010

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2010.1&2017.1

MIL-STD-750F 半导体分立器件试验方法和程序 方法2073&2074

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。