DA（数模转换）检测

D/A（数模转换）检测：电子领域检测服务，常见项目7项，包括输入低电平电压V IL、输入低电平电流I IL等，依据QJ 3044-1998等公开标准执行。

检测项目

电学性能

• 输入低电平电压V IL
• 输入低电平电流I IL
• 输入高电平电压V IH
• 输入高电平电流II H
• 失调误差EO
• 微分线性EDL（DNL）
• 线性误差EL（INL）

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

QJ 3044-1998 半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 QJ 3044-1998

SJ/T 10741-2000《半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 第5.3条》

QJ 3044-1998 半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 第5.1.2条

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。