低频电连接器检测

低频电连接器检测:常见项目19项,包括接触件的分离力(弹性接触件)、低电平接触电阻等,依据QJ 1508-1988等标准执行,判定以标准条款为准。

检测项目

力学性能

接触件的分离力(弹性接触件)

电学性能

外观检查(包括尺寸、质量)

  • 低电平接触电阻
  • 外壳间的导电性
  • 接触电阻
  • 绝缘电阻
  • 耐压
  • 互换性
  • 空气漏泄
  • X射线透视检查
  • 外部目检
  • 外壳间的电连续性
  • X射线检查
  • 制样镜检
  • 密封
  • 扫描电子显微镜检查
  • 接触件检查
  • 物理检查
  • 扫描电子显微镜(SEM)检查

检测范围

适用于材料领域常见产品与材料的送检;样品要求依适用标准规定,委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

兆欧表法:施加规定直流电压测量绝缘电阻

绝缘电阻遥测法:评估湿热试验前后绝缘性能变化

工频/直流耐压试验:按规定的升压速率施加电压,评价介质耐压能力

密封性能试验:加压或抽真空检漏,评价密封等级

外壳防护试验:按IP等级进行淋水、扬尘等考核

检测仪器

  • 绝缘电阻测试仪(兆欧表)
  • 直流高压发生器
  • 耐压测试仪
  • 击穿电压测试仪
  • 气密性检漏仪
  • 氦质谱检漏仪
  • 淋雨试验箱
  • 砂尘试验箱

检测标准

常见适用标准如下;标准存在更新或替代时,以委托时现行有效版本为准:

QJ 1508-1988 电连接器试验方法 9 方法103

GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0601 2.3条

GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 2.3

GJB 1217A-2009 电连接器试验方法 3002

QJ 1903-1990 电连接器总规范 4.5

QJ 1508-1988 电连接器试验方法 QJ 1508-1988

GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

GJB 1491-1994 金镀层规范 4.6.3

GJB 1491-1994 金镀层规范 GJB 1491-1994

GJB4027A-2006、2.5 **电子元器件破坏性物理分析方法

GJB4027A-2006、2.8 **电子元器件破坏性物理分析方法

GJB 1216-1991 电连接器接触件总规范 4.7.1

GJB 1216-1991 电连接器接触件总规范 GJB 1216-1991

GJB 1217A-2009 电连接器试验方法 GJB 1217A-2009

QJ 1903-1990 电连接器总规范 QJ 1903-1990

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理,所引标准以现行有效版本为准。

半导体集成电路(运算放大器电压比较器)检测
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