数字集成电路存储器检测

数字集成电路存储器检测：常见项目8项，包括输入低电平电流、输入高电平电流等，依据GB/T 17574-1998等标准执行，判定以标准条款为准。

检测项目

电学性能

输出短路电路I OS

• 输入低电平电流
• 输入高电平电流
• 输出低电平电压
• 输出高电平电压
• 静态条件下的电源电流
• 输入低电平电流I IL
• 输入高电平电流I IH

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标

性能参数测试：测量电气参数与功能性能

检测仪器

• 耐压测试仪
• 绝缘电阻测试仪
• 数字万用表

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB/T 17574-1998《半导体器件集成电路第3部分：数字集成电路》

GB/ 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ章 第2节 2》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。