薄膜晶体管场效应晶体管检测

薄膜晶体管/场效应晶体管检测：常见项目6项，包括小信号短路输入电容、栅-源阈值电压等，依据GB/T 17573-199等标准执行，判定以标准条款为准。

检测项目

电学性能

• 小信号短路输入电容
• 栅-源阈值电压
• 栅极漏泄电流
• 漏极截止电流
• 漏极电流
• 静态漏-源通态电阻和断态电阻

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标

X射线衍射法（XRD）：测定物相组成与晶体结构

检测仪器

• 频谱分析仪
• 示波器
• 信号发生器
• 网络分析仪
• X射线衍射仪

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB/T 17573《-199 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总则;》

GB/T 17573-1998《-199 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总则;》

GB/T 4586-1994《半导体器件 分立器件 第8部分 第IV章:2.2》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。