电子级多晶硅太阳能级多晶硅检测

电子级多晶硅、太阳能级多晶硅检测：常见项目4项，包括少数载流子寿命、受主含量等；适用标准以GB/T 4061-2009等现行有效版本为准。

检测项目

力学性能

少数载流子寿命

化学性能

结构

• 受主含量
• 施主含量

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：同时测定多种金属元素含量

滴定分析法：用于钙、镁等常量元素的容量法测定

疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线

耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核

检测仪器

• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 自动电位滴定仪
• 分析天平
• 疲劳试验机
• 电液伺服试验机

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB/T 4061-2009《硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法》

GB/T 24581-2009《低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测试方法》

GB/T 1553-2009《硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。