安全芯片检测

安全芯片检测：电子领域检测服务，常见项目64项，包括电磁分析攻击的防护、电压对比/电子束探测等，依据公开标准执行。

检测项目

电学性能

• 电磁分析攻击的防护
• 电压对比/电子束探测
• 电磁操纵
• 电磁辐射（EMA）
• 公钥密码算法
• 分组密码算法
• 固件存储
• 固件导入
• 固件执行
• 安全芯片标识
• 密钥使用
• 密钥及敏感信息的自毁
• 密钥存储
• 密钥导入
• 密钥导出
• 密钥更新
• 密钥清除
• 密钥生成
• 故障攻击的防护
• 敏感信息传输
• 敏感信息存储
• 敏感信息清除
• 敏感信息运算
• 杂凑密码算法
• 版图保护
• 物理接口
• 生命周期标识
• 能量分析攻击的防护
• 自检
• 计时攻击的防护
• 逻辑接口
• 随机数生成
• PAMID
• 主动探测
• 传输信息分析
• 传输系统的FIB修改
• 传输系统的物理位置探测
• 供电电源操纵
• 光注入
• 其他非侵入式操纵
• 利用安全芯片的测试特性
• 存储器访问控制机制
• 安全芯片背部准备
• 安全芯片表面准备
• 安全芯片表面简要分析
• 安全芯片表面详细分析
• 密码算法
• 差分功耗分析（DPA）
• 差分错误分析（DFA）
• 异常检测机制
• 形象化重现功耗中隐含的信息
• 残余信息保护机制
• 测试模式的重激活
• 简单功耗分析（SPA）
• 被动探测
• 过程中断
• 逻辑建立模块的修改
• 逻辑建立模块的干扰
• 随机数发生器
• 随机数发生器攻击
• 非易失性ROM信息的泄露
• 非易失性ROM信息的获取
• 非易失性可编程存储器信息的获取
• 非易失性可编程存储器的直接读取

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

放射性测量：测定样品放射性核素活度或辐射剂量水平

目测检查法：在规定光照与观察距离下检查外观缺陷、标识完整性与印刷质量

标准样对照法：与标准样品比对判定外观等级

检测仪器

• 测氡仪
• γ能谱仪
• 辐射剂量仪
• 目视检查（标准光源箱条件下）
• 显微镜
• 标准样品

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

JR/T 0098.2-2012 中国金融移动支付 检测规范 第2部分：安全芯片 5.2.6

JR/T 0098.2-2012 中国金融移动支付 检测规范 第2部分：安全芯片 JR/T 0098.2-2012

GM/T 0008-2012 安全芯片密码检测准则 5.3

JR/T0098.2-20126.2.24 中国金融移动支付 检测规范 第2部分：安全芯片

JR/T0098.2-20126.2.25 中国金融移动支付 检测规范 第2部分：安全芯片

JR/T0098.2-20126.2.23 中国金融移动支付 检测规范 第2部分：安全芯片

GM/T 0008-2012 安全芯片密码检测准则 GM/T 0008-2012

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。