屏蔽材料检测

屏蔽材料检测：材料产品检测项目与标准依据说明，常见项目22项，包括电磁屏蔽性能、电磁屏蔽效能等。

检测项目

电学性能

• 电磁屏蔽性能
• 电磁屏蔽效能
• 屏蔽效能
• 射频屏蔽效能
• 屏蔽效能（混波室试验方法）
• 磁屏蔽效能
• 射频屏蔽效果/屏蔽效能
• 屏蔽效能测试
• 衰减比
• 非均匀性
• 铅当量
• 累积因子
• 电离辐射屏蔽系数
• 平面材料屏蔽效能（点频测试法）
• 大屏蔽体屏蔽效能测量
• 平面材料屏蔽效能（扫频测试法）
• 小屏蔽体屏蔽效能测量
• 平面屏蔽材料的屏蔽效能
• 反射电平
• 交叉极化隔离度
• 路径损耗均匀性
• 场幅度均匀性

检测范围

检测范围覆盖材料领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

原子吸收光谱法（AAS）：测定样品中铅、镉、汞、砷等重金属元素含量

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：多元素同时测定，适用于基体复杂样品

原子荧光光谱法（AFS）：用于砷、汞、硒等易氢化元素的高灵敏测定

放射性测量：测定样品放射性核素活度或辐射剂量水平

检测仪器

• 原子吸收光谱仪
• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 原子荧光光谱仪
• 微波消解仪
• 分析天平
• 测氡仪
• γ能谱仪
• 辐射剂量仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

EN 2591《航空和航天.光和电连接元件.试验方法.第213部分、100MHz～1GHz的屏蔽效能》

GJB 6780-2009 微波暗室性能测量方法 5

GJB2606-1996 军用透光屏蔽材料通用规范 3.5

GJB6190-2008GJB8820-2015 射频屏蔽效果/屏蔽效能

SJ 20524-1995《材料屏蔽效能的测量方法》

GB/T 30142-2013《4 屏蔽效能》

GJB 8820-2015 5、6 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 GJB 8820-2015 5、6

GJB 6190-2008 GJB8820-2015 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 GJB6190-2008 GJB8820-2015

GJB 6785-2009 军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法 4、5

ASTM D4935-2018 《测量平面材料的电磁屏蔽效应的试验方法》 6

GB/T 27582-2011《光学功能薄膜 等离子电视用电磁波屏蔽膜 屏蔽效能测定方法》

GJB 6190-2008 《电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法》 6

ASTMD 4935-2018《6 屏蔽效能》

ASTM D 4935-2018 《测量平面材料的电磁屏蔽效应的试验方法》 ASTM D4935-2018

GJB8820 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 第5.1条款

DINEN 2591《-213-1997 电磁屏蔽性能》

SJ 20814-2002《军用电磁屏蔽箔片通用规范》

GB/T 25471-2010《电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。