半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)检测

半电波暗室(SAC)和全电波暗室(FAR)检测：辐射检测产品检测项目与标准依据说明，常见项目5项，包括场地电压驻波比、全电波暗室的场地衰减偏差等。

检测项目

电学性能

场地电压驻波比

• 全电波暗室的场地衰减偏差
• 半电波暗室的场地衰减偏差
• 场均匀性
• 背景噪声

检测范围

检测范围覆盖辐射检测领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

声压级测量：在规定测点与工况下测量噪声声压级

检测仪器

• 声级计
• 声校准器

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 6113.104-2016

kHz～ 40 GHz ANSI C63.4-201 低压电子和电器产品射频噪声发射测量方法、频率范围9 kHz～40 GHz ANSI C63.4-2014

GB/T 9254-2008《信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 8.1》

GB/T 17626.3-2016《电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 6.2》

CISPR 22:2008 Edition 6.0 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 8.1

CISPR 16-1-4:2019 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地 Edition 4.0 6.10

CISPR 11:2015+A1:2016 Edition 6.1 工业、科学和医疗设备 射频骚扰特性 限值和测量方法 7.2

IEC 61000《-4-3:2020 Edition 4.0 6.3 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 6.2》

CISPR 22:2008 Edition 6.0 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 CISPR 22:2008 Edition 6.0

ANSI C63.4-2014 低压电子和电器产品射频噪声发射测量方法、频率范围9 kHz～40 GHz 附录 D

CISPR 11:2015+A1:2016 Edition 6.1 工业、科学和医疗设备 射频骚扰特性 限值和测量方法 CISPR 11:2015+A1:2016 Edition 6.1

CISPR 16-1-4:2019 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地 CISPR 16-1-4:2019

GB 4824-2019《工业、科学和医疗设备 射频骚扰特性 限值和测量方法 7.2》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。