磁阻法测厚仪检测

磁阻法测厚仪检测:计量校准产品检测项目与标准依据说明,常见项目12项,包括电源电压变动对仪器示值的影响、外观检查等。

检测项目

电学性能

电源电压变动对仪器示值的影响

  • 外观检查
  • 标准厚度片
  • 功能
  • 探头的测量力
  • 仪器的准确度
  • 仪器的示值变动性
  • 仪器的示值稳定度
  • 校准片
  • 基体
  • 磁阻法测厚仪检定校准
  • 电涡流测厚仪

检测范围

检测范围覆盖计量校准领域常见产品类型;样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

测厚法:千分尺或非接触方式测量厚度

称重法:测定单位面积质量

目测检查法:在规定光照与观察距离下检查外观缺陷、标识完整性与印刷质量

标准样对照法:与标准样品比对判定外观等级

检测仪器

  • 千分尺
  • 测厚仪
  • 电子天平
  • 目视检查(标准光源箱条件下)
  • 显微镜
  • 标准样品

检测标准

常用标准与依据如下,所引标准如遇更新、替代或废止,以现行有效版本为准:

GB/T 4956-2003《磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 4》

DB44/T1207-2013 磁性和电涡流覆层厚度测量仪

JJG 818 磁性﹑电涡流式覆层厚度测量仪检定规程

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理,所引标准以现行有效版本为准。

光学零件检测
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