微波暗室检测

微波暗室检测：常见项目14项，包括场地电压驻波比、电压驻波比等，依据GB/T 6113.104等标准执行，判定以标准条款为准。

检测项目

电学性能

• 场地电压驻波比
• 电压驻波比
• 纹波电压
• 静区反射电平
• 交叉极化隔离度
• 反射电平
• 场均匀性
• 场幅度均匀性
• 归一化场地衰减
• 路径损耗均匀性
• 反射（率）电平
• 多路径损耗
• 屏蔽效能
• 场幅均匀性

检测范围

适用于辐射检测领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

YD/T 1484-2011《纹波电压》

YD/T 1484.1-2016《无线终端空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 第1部分：通用要求 附录C》

IEEE149-20083~21 天线测试方法

IEEE149-2008 天线测试方法 3~21

IEEE Std 1309-2013 9kHz～40GHz电磁场传感器和探头（天线除外）校准方法 A.5

GB/T 6113.104-2016《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辅助设备 辐射骚扰 7》

GJB 6780-2009 微波暗室性能测试方法 6

IEEE 149-20086 场幅均匀性

GJB6780-2009 微波暗室性能测量方法 5

GB/T 17626.3-2016《电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 6.2》

IEEE 149-2008 静区反射电平

IEEE 149-20085、6、7 静区反射电平

CTIA -2001 纹波电压

IEEE Std 1309-2013 9kHz～40GHz电磁场传感器和探头（天线除外）校准方法 IEEE Std 1309-2013

IEC 61000《-4-3:2010 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 6.3》

CTIA-2001Section3 移动终端OTA性能测试规范 CTIA-2001 Section 3

IEEE Std 149-2021 天线测量操作建议 IEEE Std 149-2021

GJB6780-20096 微波暗室性能测量方法

GJB6780-20097 微波暗室性能测量方法

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。