屏蔽暗室检测

屏蔽暗室检测：电子产品检测项目与标准依据说明，常见项目3项，包括搭接电阻、屏蔽效能等。

检测项目

电学性能

搭接电阻

• 屏蔽效能
• 归一化场地衰减

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 12190-2006《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》

GB/T 6113.105-2018

GJB870-1990 **电子设备方舱通用规范 4.6.5

SJ 20925-2005《**低泄漏方舱通用规范 4.5.2.1》

GJB 870-1990 **电子设备方舱通用规范 GJB870-1990

GJB3039-1997 舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法 5.2

GJB 3039-1997 舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法 GJB3039-1997

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。